业纳的 Opticline 产品系列测量站非常适用于满足光学轴测量的要求。这些系统可用于制造其本身，或用于测量室中。即使在工业环境的恶劣生产区域中，这些系统也可以毫无问题地运行。
SPC 测量站配备用于统计过程控制 (SPC) 的各种接口。可通过这些接口非常高效地监测制造过程，并在必要情况下快速干预。这可以确保您产出的工件始终具有高品质。这些测量系统的操作十分简单，测量结果不依赖于操作员，并且可在需要时使用分析功能提供易于理解的测量结果。
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